
к.ф.-м.н., в.н.с. ИК СО РАН Герасимов Евгений Юрьевич
к.ф.-м.н., в.н.с. ИК СО РАН Герасимов Евгений Юрьевич
В рамках мастер-класса будут рассмотрены основные теоретические аспекты и проведено два демонстрационных расчета. Первый - моделирование инструментального профиля по дифракционной картине высококристаллического стандарта. Второй – уточнение структуры методом Ритвельда на примере данных, полученных на лабораторном рентгеновском дифрактометре. Будет показан полный цикл анализа: от подготовки данных, выбора модели, описания инструмента до интерпретации результатов.
Для расчетов будет использован бесплатный и мощный программный пакет GSAS-II.
к.х.н., с.н.с. ИК СО РАН, доцент НГУ Кардаш Татьяна Юрьевна
к.ф.-м.н., с.н.с. ИК СО РАН, доцент НГУ Черепанова Светлана Витальевна
к.х.н., с.н.с. ИК СО РАН, доцент НГУ Анна Владимировна Нартова